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Intel 10nm工艺黑科技炸裂:量子阱晶体管

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沙发
发表于 2015-4-23 20:02:57 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
intel前几天庆祝了半导体业界黄金法则——摩尔定律,通过更先进的工艺不断提升晶体管密度是Intel制胜的关键,他们也以此维护了摩尔定律的准确。如今Intel的制造工艺已经是14nm,下一步就是10nm工艺,面临的挑战还会更多,Intel实际上也延期了10nm工艺进程,但Intel手中的黑科技可不少,分析认为Intel将在10nm工艺节点启用量子阱晶体管(Quantum Well FET,简称QWFET),还会使用铟镓砷及应变锗两种新型半导体材料。
如今的集成电路基本上都是基于硅基材料,晶体管的性能、运行电压及电流都与晶体管的结构有关,因此整体功耗密度相同的情况下,晶体管的功耗与电压的平方成正比——当然,晶体管密度是在不断提升到的(这是摩尔定律的内容)。这个规律是1975年IBM公司的研究人员Robert Dennard总结的,因此这个定律也以他的名字命名——这就是Dennard scaling定律的来源。
扯到这些其实是本文内容的铺垫,这个定律在2000年代前都是适用的,但2005年David Wang在IEDM会议上提出,晶体管的性能不能再通过几何结构而提升,功耗问题越来越严重,而功耗来源于两个方面——漏电流带来的静态功耗以及晶体管开关带来的动态功耗(注:动态功耗有个公式Switching power = C*V2*F)。
现在的情况就是晶体管越小,漏电流越来越严重,解决功耗问题的重点就转移到漏电流这方面来了,Intel曾经在90nm工艺使用应变硅工艺,45nm节点使用HKMG(高K金属栅极)工艺,22nm工艺使用FinFET晶体管工艺,这都有助于降低漏电流,进而降低功耗。

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