关于MSP430 导致XT1LFOFFG=1晶振故障检测无法通过的现象总结

痛苦的滋味

以前写程序，长碰到这个现象； 本来程序好好地，加了一个函数之后，程序就不怕了，一进入调试状态，就停留在晶振故障检测处：   do{                                                       // 循环检测直到XT1，XT2和DCO稳定     UCSCTL7 &= ~(XT2OFFG + XT1LFOFFG + XT1HFOFFG + DCOFFG); // 清除XT1，XT2，DCO故障标志   SFRIFG1 &= ~OFIFG;                                      // 清除故障标志 }while (SFRIFG1&OFIFG);                                   // 查询振荡器故障标志   UCSCTL6 &= ~(XT2DRIVE0+XT2DRIVE1);                        // 根据预期的频率设置XT2驱动器驱动能力 当前为最高   UCSCTL4 |= SELA_0+SELS_5 + SELM_5;                        // ACLK=XT1CLK, SMCLK=XT2CLK, MCLK=XT2CLK 也就是上面的do while循环中； 总有一个标志位等于1； 我说下有什么原因导致无法正常执行上面的语句： 1）外部晶振故障，晶振质量问题或者匹配电容导致的，这个是比较常见的原因； 2）尽量不要超过单片机的最大工作频率，这就不解释了； 3）编译器优化问题，这个是最无法注意到的，尤其是在调试系统阶段； 我描述下我的经历： 开始跑个uc系统，大概在70多KB code，无忧化，系统跑的很正常；后来增加了一个新功能函数； 程序再次运行时卡在晶振故障检测循环里，无法跳出，试过变量no_init，函数调用换个位置，都无法实现； 最后偶然间，将编译优化由debug换成medium，系统正常运行，这个很奇怪，如果要深究的话也只能找IAR公司了；