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标题: 电阻可编程模拟温度传感器设计方案 [打印本页]

作者: XJzy 时间: 2015-10-14 23:20
标题: 电阻可编程模拟温度传感器设计方案
[导读] TI的LM57是一款高精度、双路输出、集成的、模拟温度传感器温度开关。通过使用两个外部1%电阻，其跳闸温度（TTRIP）是可编程的。

LM57采用极小封装的电阻（0.5mm×1mm），可以编程为任意的256跳闸温度，并占用很小的电路板空间。VTEMP输出可以提供一个模拟输出电压，该输出电压具有负温度系数（NTC），与测量的温度成正比。

　　器件内置温度迟滞（THYST）可以保持输出稳定（在热振荡的环境中）。当裸片温度超过TTRIP时，数字温度开关输出将被激活，当温度低于TTRIP minus THYST时，将释放数字温度开关输出。其中一个数字输出，TOVER，是高活跃推挽结构。其他数字输出，TOVER是低活跃漏极开路结构。

　　图1 LM57内部方框图

　　如果TRIP-TEST输入高，将使数字输出活跃。一个处理器可读取温度开关输出的逻辑电平，以确认他们进入了活跃状态。这样就可以现场核实，系统组装后，比较器和输出电路的功能正常。在TRIP-TEST引脚为高电平时，断路电平参考电压出现在VTEMP引脚。然后，系统可以使用这个电压，对传感器的精度进行更严格的校准。将TOVER连接TRIP-TEST可以在输出断路后锁存输出。通过强制压低TRIP-TEST，或置LM57断电可以将其清除。

　　表1 LM57方案材料清单

　　由于最大电流仅消耗28μA，器件具有非常低的自加热，在静止空气中约0.02℃。

　　LM57主要特性

　　?断路温度由外部电阻设定

　　?外部电阻有助于零误差

　　?推挽和漏极开路温度开关输出

　　?宽工作温度，跳闸温度范围-50℃~150℃

　　?完全线性模拟VTEMP温度传感器输出

　　?短路保护模拟和数字输出

　　? TRIP-TEST引脚允许在系统中测试

　　?数字输出的闭锁功能

　　?超小型2.5mm×2.5mm 8引脚WSON封装

　　图2 LM57方案原理图

　　LM57应用

　　?手机

　　?无线收发器

　　?数码相机

　　?个人数字助理（PDA）

　　?电池管理

　　?汽车

　　?磁盘驱动器

　　?游戏

　　?电器

　　LM57方案

　　该LM57EVM评估模块（EVM）可帮助设计人员评估LM57的操作和性能。LM57是一款高精度、双路输出，带有集成的温度开关的模拟温度传感器。用户可以通过可编程电阻器设置断路温度（TTRIP）。LM57可以被编程为任何256的断路温度。

　　该EVM包含一个LM57电阻可编程温度开关和模拟温度传感器。它与LLP-8-10 LM57BISD预先组装在一起，并和LM57有10℃的迟滞。其头部连接器允许用户把所有的封装引脚外露，以便于观察和测试。

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